Agilent4287A射频LCR测试仪/HP4287A阻抗分析仪·1MHz～3GHz，以100KHz分档·阻抗测量范围宽，从200mΩ到3KΩ·在低测度信号电平上具有优良的测量重复性·基本精度为1%·高速测量9ms
Agilent4287A射频LCR测试仪/HP4287A阻抗分析仪
产品状态:已停产
Agilent 4287A射频LCR测试仪在1MHz～3GHz频率范围可以提供***、可靠和快速测量，以改进生产线上对电子元件进行测试的质量和生产
率。与反射测量技术不同，采用直流电压测量技术能在大的阻抗范围进行***测量。
生产***，质量可靠
4287A 适于在射频范围对电子元器件进行测试。4287A的测量非常快。此外，在小测试电流(100μA)处优良的测试重复性还可以***提高生
产率，因为所需的取平均过程非常短。
系统组建简单
测试头电缆(1m或利用延伸电缆时为2m)很容易接到(元件固定装置的)被测件接点附近，而不会使误差有任何增大。内置比较器功能、高速
GPIB接口和处理器接口可用来简化与元件固定装置和PC机的组合。增强的比较器功能可以使复杂的仓室适用于多频或阵列芯片测试。
便于使用
8.4英寸彩色显示器能清楚观察测量设置和结果。新研制的用户接口使操作过程更为方便且无差错。内置统计分析功能可以提供监视测试
质量和效率的过程。可选用的LAN接口有助于统一进行生产监控。此外，若干APC-7 SMD测试夹具可以与4287所提供的夹具架和APC-3.5转APC-7
适配器联用，从而无需制作***夹具。 |
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